Détecteurs à semi-conducteurs E-beam
El-Mul offre des solutions de détection les plus avancées dans le domaine de détecteurs à semi-conducteurs pour systèmes à faisceaux d'électrons ( E-beam). Les outils de métrologie et d'inspection des semi-conducteurs exigent des systèmes de détection spécifiques. Les exigences d'un débit de plus en plus élevé et le besoin croissant d'extraire des informations des couches internes poussent El-Mul à développer de nouvelles technologies qui relèvent ces défis.
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Les outils de métrologie et d'inspection des semi-conducteurs imposent des exigences spécifiques en matière de systèmes de détection. Les contraintes d'un débit de plus en plus élevé et le besoin croissant d'extraire des informations des couches internes encouragent El-Mul à développer de nouvelles technologies pour répondre à ces enjeux.
El-Mul, marque d'Exosens, est devenu le leader mondial des technologies de détection rapide. En utilisant notre scintillateur très rapide - ScintiFast™, des amplificateurs rapides à faible bruit exclusifs et des méthodes uniques de segmentation du signal extrait, nous offrons les solutions de détection les plus avancées dans ce domaine.
En combinant ScintiFast™ avec un capteur de lumière rapide et une électronique spécialement développée, nos systèmes de détection peuvent fonctionner à une vitesse de balayage de 1nsec/pixel.
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